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显微镜/投影仪

尼康轮廓投影仪v-系列

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高清测量视频显微镜

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莱卡工业显微镜

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蔡司显微镜

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ZEISS ACCRUA三坐标

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三维扫描仪

3D三维视觉测量仪

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智能光学追踪3D扫描仪

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轮廓粗糙度测量仪

粗糙度测量仪FTA系列

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粗糙度轮廓度测量仪-一体机FTA-D系列

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轮廓测量仪cv系列-高性价比

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圆度圆柱度测量仪

三丰圆度、圆柱度测量仪

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圆度快检仪

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台阶仪

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白光干涉 3D形貌测量系统

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211系列——非接触轴类测量仪

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CNC 影像测量系统VMZ-R系列

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CNC影像测量机 Quick Vision Pro系列

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QV Active CNC影像测量机

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DANTSIN丹青万能测长机

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硬度测量仪

HV-100 810系列 — 维氏硬度试验机

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HARDMATIC HH-411 810系列 — 反弹式便携里氏硬度计

HARDMATIC HH-411 810系列 — 反弹式便携里氏硬度计

810系列 — CNC洛氏硬度试验机 HR-600

810系列 — CNC洛氏硬度试验机 HR-600

卡尺、高度尺、深度尺、测高仪

线性编码器量具

卡尺

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高度尺

高度尺

测高仪

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尼康高度计

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千分尺、微测头

螺旋测微量具

数显千分尺

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数显万分尺

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微分头

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刻度千分尺

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内径测量

内径表

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孔径千分尺

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内径千分尺

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指示表杠杆表

杠杆表

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指针式指示表

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数显百分表、数显千分表

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量块、量尺、标准器

单体量块

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量块、基准块套装

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标准尺

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塞尺塞规

塞尺、半径规

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针规、量规

碳纤维测量工具、量规

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高度规

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光面环规

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手动、电动工具

GCM 12 GDL PROFESSIONAL 斜断锯

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GSR 18V-60 FC PROFESSIONAL 充电式电钻/起子机

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GDC 140 PROFESSIONAL 金刚石瓷砖切刀

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GBH 18V-36 C PROFESSIONAL充电式锤钻

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GBM 400 PROFESSIONAL 手电钻

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WL系列电子水平仪

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光栅式线性测微计

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测微仪

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精密测量传感器

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OSG铣削加工工具

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1-80吨平板拖车

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G2系列 1.6-2吨蓄电池座式前移式叉车

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美国力科WaveSurfer 4000HD示波器

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美国力科WaveSurfer 3000Z示波器

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ASD FLX 系列水冷模块化程控直流电源

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Asterion DC 系列高性能直流电源

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Asterion ASM 系列高功率三通道程控直流电源

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Asterion ASA 系列宽范围三通道程控直流电源

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MG3710E矢量信号发生器

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R&S SMA100B 射频和微波信号发生器

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安捷伦N5182A MXG 射频矢量信号发生器

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33210A 波形/函数发生器

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泰克 AWG70000 任意波形发生器

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Field Master Pro MS2090A手持式触摸屏频谱分析仪

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R&S FSW频谱分析仪

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是德N9010B频谱分析仪

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微电阻计RM3544/RM3548 原3540升级替代产品

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德国吉赫兹 ME3830B 低频电磁辐射检测仪

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工频综合场强测试仪HC100(DC-100kHz)

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低频电磁辐射分析仪EHC-150(1Hz-150kHz)

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电磁辐射测试仪 E300-6(80kHz-6.5GHz)

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福禄克红外热像仪

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X射线荧光光谱仪

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FPD/LSI半导体检查显微镜

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色差仪光泽度计 3NH

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色差仪 柯尼卡美能达

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E45.105电子万能试验机(50kN-100kN)

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GWT系列高温蠕变持久强度试验机

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CTT1303微机控制电子扭转试验机

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CTT1202微机控制电子扭转试验机

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CDT1305-2微机控制电子抗压试验机(300KN;5KN)

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循环腐蚀试验箱

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高低温环境试验箱-可定制

高低温环境试验箱-可定制

产品描述

蔡司 LSM 900 激光扫描共聚焦显微镜是
一台用于材料研究与分析的仪器, 可在实验室或多用户设施中表征三维微观
结构和表面形貌。将蔡司 Axio Imager.Z2m 正置式全自动光学显微镜或蔡司
Axio Observer 7 倒置式显微镜装上 LSM 900 共聚焦扫描头,即升级为共聚
焦显微镜,同时具有所有的光学显微镜观察模式,以及高精度的共聚焦表面
三维成像模式 ,您可轻松将所有功能集于一身
共聚焦原理 – 对整个样品进行 3D 成像
LSM 900 显微镜系统使用激光作为光源,采集样品一定光切厚度的激光反射信号,并在三维
高度上进行扫描得到光切面的图像堆栈。共聚焦显微镜的主要特点是光路中设置有小尺寸的光
栏(通常称为针孔),该针孔仅允许焦平面的光线通过,阻挡非焦平面的光线进入探测器。为
了对光切面进行成像,还需要控制激光束进行 X、Y 方向的扫描。扫描的时候,焦平面的信息
会呈现亮色,而非焦平面的信息会呈现黑色。移动样品和物镜的相对位置,就可以以非破坏性
方式得到一系列沿高度方向上的光切面图像堆栈。分析水平图像上单个像素位置在高度上的亮
度变化曲线,就可以得到当前像素位置的物体高度值。综合整个视场内所有像素位置的高度信
息就可以形成测试面积上的高度分布云图。
共聚焦专用 C Epiplan-APOCHROMAT 高性能物镜
使用高性能复消色差平视场校正 C Epiplan-APOCHROMAT 系列物镜,可以更好地满足反射光
应用的严苛要求。该系列物镜可以保证在可见光谱范围内具有出色的成像对比度,以及高透过
率。同时还可以在宽场观察模式下得到很好的微分干涉效果,以及清晰的荧光图像。
C Epiplan-APOCHROMAT 物镜专为共聚焦成像设计,在使用激光波长 405 nm 的情况下,能
够实现全视野中最小的像差。使用这一物镜能够以更少的干扰噪声和伪影来产生更好的形貌
数据,进而呈现更多样品表面细节。
灵活多样的组件选择

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